Система микроскопии сверхвысокого разрешения NIKON N-SIM Super-Resolution

Поставщики и цены:

4 поставщикаконтакты скрыты

Система микроскопии сверхвысокого разрешения NIKON N-SIM Super-Resolution

Система микроскопии сверхвысокого разрешения NIKON N-SIM Super-Resolution - Визуализация клеточных структур и молекулярной активности при разрешении, недоступном для обычной световой микроскопии.

Новая лицензированная UCSF технологии SIM, созданная на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti.

Уникальные оптические технологии и методы производства.

Система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы.

Система N-SIM позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр.

- Почти в два раза более высокое разрешение по сравнению с обычными оптическими микроскопами

Благодаря использованию лицензированной UCSF технологии "микроскопии структурированного освещения" система микроскопии N-SIM от Nikon, оснащенная прославленым объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1,49), разработанным при помощи уникальных оптических технологий и методов, может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы.

- Максимальная скорость среди аналогов – 0,6 с/кадр

Система N-SIM очень эффективна для получения изображений клеток в режиме реального времени с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр.

- Метод получения изображений TIRF-SIM

Новая методика освещения TIRF-SIM позволяет проводить наблюдения по методу флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF) с более высоким разрешением, чем обычные микроскопы TIRF, и получать более детальную информацию о зонах вблизи клеточных мембран.

Методика 3D-SIM

Новая методика освещения 3D-SIM позволяет делать оптические срезы образцов, за счет чего возможна визуализация более сложных клеточных структур при более высоком пространственном разрешении до 20 мкм.